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    (Invited) High Performance UTB GeOI n and pMOSFETs Featuring HEtero-Layer-Lift-Off (HELLO) Technology
    Hsin, Wen ; Irisawa, Toshifumi ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 86 (2018-07-23), Heft 10, S. 25-34
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    (Plenary) Physical Insights on the Design of UTB Devices, Including FinFETs
    Fossum, Jerry G.
    In: ECS Transactions, Jg. 66 (2015-03-27), Heft 5, S. 3-11
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Characteristic Variations Induced by Random Fluctuation of Source/Drain Lateral Distribution Dopant in Nano-Scale UTB SOI MOSFET
    Du, Linfeng ; Deng, Hui ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 18 (2009-03-06), Heft 1, S. 77-81
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Low-Field Electron Mobility in Stressed UTB SOI MOSFETs for Different Substrate Orientations
    Ungersboeck, Enzo ; Sverdlov, Viktor ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 3 (2006-10-20), Heft 7, S. 45-54
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    (Invited) High Performance UTB GeOI nand pMOSFETs Featuring HEtero-Layer-Lift-Off (HELLO) Technology
    Chang, Wen Hsin ; Irisawa, Toshifumi ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 86 (2018-07-23), Heft 10
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    (Plenary) Physical Insights on the Design of UTB Devices, Including FinFETs
    Fossum, Jerry G.
    In: ECS Transactions, Jg. 66 (2015-03-27), Heft 5
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    (Invited) FinFET and UTB--How to Make Very Short Channel MOSFETs
    Hu, Chenming
    In: ECS Transactions, Jg. 50 (2013-03-15), Heft 9
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Characteristic Variations Induced by Random Fluctuation of Source/Drain Lateral Distribution Dopant in Nano-Scale UTB SOI MOSFET
    Du, Linfeng ; Deng, Hui ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 18 (2009-03-06), Heft 1
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Low-Field Electron Mobility in Stressed UTB SOI MOSFETs for Different Substrate Orientations
    Ungersboeck, Enzo ; Sverdlov, Viktor ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 3 (2006-10-20), Heft 7
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?

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