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    Effect of deep traps on the low-frequency capacitance-voltage characteristic of selectively doped Al/sub x/Ga/sub 1-x/As/GaAs heterostructures
    Gorev, N.B. ; Kodzespirova, I.F. ; et al.
    In: 1998 5th International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology. Proceedings (Cat. No.98EX105), 1998, S. 661-663
    Konferenz
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    Technique and instrument for the characterization of deep traps in GaAs MESFET structures
    Gorev, N.B. ; Kodzespirova, I.F. ; et al.
    In: 1998 5th International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology. Proceedings (Cat. No.98EX105), 1998, S. 668-669
    Konferenz
    Wie komme ich dran?

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