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  1. SAVKINA, R. K ; SMIRNOV, A. B ; et al.
    In: 10th International Conference on Defects: Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors - DRIP-X, Batz-sur-Mer, France, 29th September-2nd October, 2003, Jg. 27 (2004), Heft 1-3, S. 375-377
    Konferenz
  2. KNIKOVSKY, S. I ; POPOV, V. M ; et al.
    In: 10th International Conference on Defects: Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors - DRIP-X, Batz-sur-Mer, France, 29th September-2nd October, 2003, Jg. 27 (2004), Heft 1-3, S. 177-179
    Konferenz
  3. ETNITRUK, N. L ; KLADKO, V. P ; et al.
    In: 10th International Conference on Defects: Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors - DRIP-X, Batz-sur-Mer, France, 29th September-2nd October, 2003, Jg. 27 (2004), Heft 1-3, S. 407-409
    Konferenz
  4. KORNIYENKO, S. M ; BYKOV, I. P ; et al.
    In: EPJ. Applied physics (Print), Jg. 7 (1999), Heft 1, S. 13-17
    academicJournal

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