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136 Treffer

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    Review on advanced research on ceramic materials in Ukraine : Multilayered and fibre-reinforced composites: problems and prospects
    Vasilev, A. D. ; Haddad, Y. M.
    In: NATO ASI SERIES 3 HIGH TECHNOLOGY, Jg. 43, S. 429-452
    Konferenz
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    'Quantum Effect Devices on SOI Substrates with an Ultrathin Silicon Layer' : Perspectives, science and technologies for novel silicon on insulator devices
    Omura, Y.
    In: NATO ASI SERIES 3 HIGH TECHNOLOGY, Jg. 73 (2000), S. 257-268
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    'Nanoscale Wave-Ordered Structures on SOI' : Perspectives, science and technologies for novel silicon on insulator devices
    Smirnov, V. K. ; Danilin, A. B.
    In: NATO ASI SERIES 3 HIGH TECHNOLOGY, Jg. 73 (2000), S. 315-320
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    'Effect of Shallow Oxide Traps on the Low-Temperature Operation of SOI Transistors' : Perspectives, science and technologies for novel silicon on insulator devices
    Lysenko, V. S. ; Tyagulski, I. P. ; et al.
    In: NATO ASI SERIES 3 HIGH TECHNOLOGY, Jg. 73 (2000), S. 307-314
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    'Electrical Instabilities in Silicon-on-Insulator Structures and Devices During Voltage and Temperature Stressing' : Perspectives, science and technologies for novel silicon on insulator devices
    Nazarov, A. N. ; Barchuk, I. P. ; et al.
    In: NATO ASI SERIES 3 HIGH TECHNOLOGY, Jg. 73 (2000), S. 163-178
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    'Total-Dose Radiation Response of Multilayer Buried Insulators' : Perspectives, science and technologies for novel silicon on insulator devices
    Rudenko, A. N. ; Lysenko, V. S. ; et al.
    In: NATO ASI SERIES 3 HIGH TECHNOLOGY, Jg. 73 (2000), S. 205-212
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    'Thin Partial SOI Power Devices for High Voltage Integrated Circuits' : Perspectives, science and technologies for novel silicon on insulator devices
    Udrea, F. ; Lim, H. T. ; et al.
    In: NATO ASI SERIES 3 HIGH TECHNOLOGY, Jg. 73 (2000), S. 321-328
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    'Influence of Silicon Film Parameters on C-V Characteristics of Partially Depleted SOI MOSFETs' : Perspectives, science and technologies for novel silicon on insulator devices
    Tomaszewski, D. ; Jakubowski, A. ; et al.
    In: NATO ASI SERIES 3 HIGH TECHNOLOGY, Jg. 73 (2000), S. 295-306
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    'Computer Simulation of Oxygen Redistribution in SOI Structures' : Perspectives, science and technologies for novel silicon on insulator devices
    Litovchenko, V. G. ; Efremov, A. A.
    In: NATO ASI SERIES 3 HIGH TECHNOLOGY, Jg. 73 (2000), S. 149-162
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    'Wafer Bonding for Micro-ElectroMechanical Systems (MEMS)' : Perspectives, science and technologies for novel silicon on insulator devices
    Colinge, C. A.
    In: NATO ASI SERIES 3 HIGH TECHNOLOGY, Jg. 73 (2000), S. 269-280
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    'A Comprehensive Analysis of the High-Temperature Off-State and Subthreshold Characteristics of SOI MOSFETs' : Perspectives, science and technologies for novel silicon on insulator devices
    Rudenko, T. E. ; Lysenko, V. S. ; et al.
    In: NATO ASI SERIES 3 HIGH TECHNOLOGY, Jg. 73 (2000), S. 281-294
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    'Laser Recrystallised Polysilicon Layers for Sensor Applications: Electrical and Piezoelectric Characterisation' : Perspectives, science and technologies for novel silicon on insulator devices
    Druzhinin, A. A. ; Maryyamova, I. I. ; et al.
    In: NATO ASI SERIES 3 HIGH TECHNOLOGY, Jg. 73 (2000), S. 127-136
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    'Perspectives of Silicon-on-Insulator Technologies for Cryogenic Electronics' : Perspectives, science and technologies for novel silicon on insulator devices
    Claeys, C. ; Simoen, E.
    In: NATO ASI SERIES 3 HIGH TECHNOLOGY, Jg. 73 (2000), S. 233-248
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    'Experimental Investigation and Modelling of Coplanar Transmission Lines on SOI Technologies for RF Applications' : Perspectives, science and technologies for novel silicon on insulator devices
    Lescot, J. ; Rozeau, O. ; et al.
    In: NATO ASI SERIES 3 HIGH TECHNOLOGY, Jg. 73 (2000), S. 225-232
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    'SOI CMOS for High-Temperature Applications' : Perspectives, science and technologies for novel silicon on insulator devices
    Colinge, J. P.
    In: NATO ASI SERIES 3 HIGH TECHNOLOGY, Jg. 73 (2000), S. 249-256
    Konferenz
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    'Recombination Current in Fully-Depleted SOI Diodes: Compact Model and Lifetime Extraction' : Perspectives, science and technologies for novel silicon on insulator devices
    Ernst, T. ; Vandooren, A. ; et al.
    In: NATO ASI SERIES 3 HIGH TECHNOLOGY, Jg. 73 (2000), S. 213-216
    Konferenz
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    'Diamond Based Silicon-on-Insulator Materials and Devices' : Perspectives, science and technologies for novel silicon on insulator devices
    Bengtsson, S. ; Bergh, M.
    In: NATO ASI SERIES 3 HIGH TECHNOLOGY, Jg. 73 (2000), S. 97-108
    Konferenz
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    'Investigation of the Structural and Chemical Properties of SOI Materials by Ellipsometry' : Perspectives, science and technologies for novel silicon on insulator devices
    Zabashta, L. A. ; Zabashta, I. O. ; et al.
    In: NATO ASI SERIES 3 HIGH TECHNOLOGY, Jg. 73 (2000), S. 217-224
    Konferenz
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    'Back Gate Voltage Influence on the LDD SOI NMOSFET Series Resistance Extraction from 150 to 300 K' : Perspectives, science and technologies for novel silicon on insulator devices
    Nicolett, A. S. ; Martino, J. A. ; et al.
    In: NATO ASI SERIES 3 HIGH TECHNOLOGY, Jg. 73 (2000), S. 187-194
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    'Hydrogen as a Diagnostic Tool in Analysing SOI Structures' : Perspectives, science and technologies for novel silicon on insulator devices
    Boutry-Forveille, A. ; Nazarov, A. ; et al.
    In: NATO ASI SERIES 3 HIGH TECHNOLOGY, Jg. 73 (2000), S. 179-186
    Konferenz
    Wie komme ich dran?

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