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    Background donor concentration in HgCdTe
    Izhnin, I.I. ; Mynbaev, K.D. ; et al.
    In: Opto-Electronics Review, Jg. 23 (2015), Heft 3, S. 200-207
    Online academicJournal
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    Wannier-Stark effect and electron-phonon interaction in macroporous silicon structures with SiO2 nanocoatings
    Karachevtseva, L. ; Goltviansky, Yu. ; et al.
    In: Opto-Electronics Review, Jg. 22 (2014), Heft 4, S. 201-206
    Online academicJournal
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    Photoluminescence of HgCdTe nanostructures grown by molecular beam epitaxy on GaAs
    Izhnin, I. ; Izhnin, A. ; et al.
    In: Opto-Electronics Review, Jg. 21 (2013), Heft 4, S. 390-394
    Online academicJournal
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    Electrical properties of HgCdTe films grown by MOCVD and doped with as
    Izhnin, I. ; Savytskyy, H. ; et al.
    In: Opto-Electronics Review, Jg. 21 (2013), Heft 2, S. 220-226
    Online academicJournal
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    Liquid crystal alignment in cylindrical microcapillaries
    Chychłowski, M. ; Yaroshchuk, O. ; et al.
    In: Opto-Electronics Review, Jg. 20 (2012), Heft 1, S. 47-52
    Online academicJournal
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    Influence of the Brownian movement on the motion of nanoand micro-particles in the inhomogeneous optical field
    Zenkova, C. ; Gorsky, M. ; et al.
    In: Opto-Electronics Review, Jg. 20 (2012), Heft 3, S. 247-254
    Online academicJournal
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    Sub-THz radiation room temperature sensitivity of long-channel silicon field effect transistors
    Sizov, F. ; Golenkov, A. ; et al.
    In: Opto-Electronics Review, Jg. 20 (2012), Heft 2, S. 194-199
    Online academicJournal
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    Defects in HgCdTe grown by molecular beam epitaxy on GaAs substrates
    Izhnin, I. ; Izhnin, A. ; et al.
    In: Opto-Electronics Review, Jg. 20 (2012), Heft 4, S. 375-378
    Online academicJournal
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    Infrared photodetectors based on the system 'Hg1−xCdxTe photodiode — direct-injection readout circuit'
    Gumenjuk-Sichevska, J. ; Karnaushenko, D. ; et al.
    In: Opto-Electronics Review, Jg. 19 (2011), Heft 2, S. 198-205
    Online academicJournal
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    New design of interference band-pass infrared filter
    Yaremchuk, I. ; Fitio, V. ; et al.
    In: Opto-Electronics Review, Jg. 19 (2011), Heft 2, S. 193-197
    Online academicJournal
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    Terahertz detectors and focal plane arrays
    Rogalski, A. ; Sizov, F.
    In: Opto-Electronics Review, Jg. 19 (2011), Heft 3, S. 346-404
    Online academicJournal
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Influence of anomalous dispersion mirror properties on quantum efficiency of InGaAs/GaAs resonant cavity photodetector
    Gryshchenko, S. ; Demin, A. ; et al.
    In: Opto-Electronics Review, Jg. 19 (2011), Heft 3, S. 296-300
    Online academicJournal
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Phase maps of polycrystalline human biological fluids networks: statistical, correlation, and fractal analysis
    Ushenko, Y.
    In: Opto-Electronics Review, Jg. 19 (2011), Heft 3, S. 333-339
    Online academicJournal
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    Metrology of degree of coherence of circularly polarized optical waves
    Zenkova, C. ; Gorsky, M. ; et al.
    In: Opto-Electronics Review, Jg. 19 (2011), Heft 3, S. 290-295
    Online academicJournal
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Wavelet analysis of polarization maps of polycrystalline biological fluids networks
    Ushenko, Y.
    In: Opto-Electronics Review, Jg. 19 (2011), Heft 4, S. 425-434
    Online academicJournal
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    THz radiation sensors
    Sizov, F.
    In: Opto-Electronics Review, Jg. 18 (2010), Heft 1, S. 10-36
    Online academicJournal
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    THz/sub-THz bolometer based on electron heating in a semiconductor waveguide
    Dobrovolsky, V. ; Sizov, F.
    In: Opto-Electronics Review, Jg. 18 (2010), Heft 3, S. 250-258
    Online academicJournal
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Stimulated and spontaneous far infra-red emission from uniaxially strained gapless Hg1−xCdxTe
    Gasan-Zade, S.G. ; Strikha, M.V. ; et al.
    In: Opto-Electronics Review, Jg. 18 (2010), Heft 3, S. 305-309
    Online academicJournal
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Ion milling-assisted study of defect structure of HgCdTe films grown by liquid phase epitaxy
    Izhnin, I.I. ; Denisov, I.A. ; et al.
    In: Opto-Electronics Review, Jg. 18 (2010), Heft 3, S. 328-331
    Online academicJournal
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    Linear HgCdTe IR FPA 288×4 with bidirectional scanning
    Vasilyev, V.V. ; Predein, A.V. ; et al.
    In: Opto-Electronics Review, Jg. 18 (2010), Heft 3, S. 332-337
    Online academicJournal
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