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    MIS gas sensors based on porous silicon with Pd and WO.sub.3/Pd electrodes
    Solntsev, V.S. ; Gorbanyuk, T.I. ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 517 (2009-09-30), Heft 22, S. 6202-6205
    Online academicJournal
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    Characterisation of sol-gel silica films doped with chromium (III) acetylacetonate
    Davydenko, Lyudmyla ; Plyuto, Yuri ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 517 (2009-05-01), Heft 13, S. 3625-3628
    Online academicJournal
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    Conformation change of nanosized silicon-organic polymer oriented into ordered nanoporous silicas
    Ostapenko, N. ; Dovbeshko, G. ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 516 (2008-10-31), Heft 24, S. 8944-8948
    Online academicJournal
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    Reconstruction of lattice structure of ion-implanted near-surface regions of Hg.sub.1- X Cd.sub.X Te epitaxial layers
    In: Thin Solid Films, Jg. 516 (2008-09-30), Heft 22, S. 8106-8111
    Online academicJournal
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    Mechanical properties of amorphous and microcrystalline silicon films
    Kulikovsky, V. ; VorliAek, V. ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 516 (2008-06-30), Heft 16, S. 5368-5375
    Online academicJournal
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    Nanocrystalline SiC films prepared by direct deposition of carbon and silicon ions
    Semenov, A.V. ; Puzikov, V.M. ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 516 (2008-03-31), Heft 10, S. 2899-2903
    Online academicJournal
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    Optical and electrical characterization of chemically and photopolymerized C.sub.60 thin films on silicon substrates
    In: Thin Solid Films, Jg. 515 (2007-07-16), Heft 19, S. 7716-7720
    Online academicJournal
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    Depth redistribution of components of SiO.sub.x layers prepared by magnetron sputtering in the process of their decomposition
    Khomenkova, L. ; Korsunska, N. ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 515 (2007-06-13), Heft 17, S. 6749-6753
    Online academicJournal
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    Structure evolution on annealing of copper-doped carbon film
    Onoprienko, A.A. ; Danilenko, N.I. ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 515 (2007-06-13), Heft 17, S. 6672-6675
    Online academicJournal
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    Electrical, luminescent and photovoltaic properties of the indium tin oxide-GaSe heterojunctions with a thin layer of gallium oxide
    Drapak, S.I. ; Katerynchyk, V.M. ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 515 (2007-06-04), Heft 16, S. 6356-6359
    Online academicJournal
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    Spectral and quantum chemical examination of the Si clusters nascent inside the SiO bulk
    Khavryuchenko, O.V. ; Khavryuchenko, V.D. ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 515 (2006-12-05), Heft 4, S. 1280-1285
    Online academicJournal
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    Organic layer effect on Si solar cells performance
    Gorbach, T. ; Ya. ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 511-512 (2006-07-26), S. 494-497
    Online academicJournal
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    Synthesis and mechanical properties of hydrogenated carbon and carbon nitride films prepared by magnetron sputtering
    Myung, Hyun S. ; Park, Yong S. ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 506-507 (2006-05-26), S. 87-91
    Online academicJournal
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    Porous silicon microstructure and composition characterization depending on the formation conditions
    Gorbanyuk, T.I. ; Evtukh, A.A. ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 495 (2006-01-20), Heft 1-2, S. 134-138
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    Effect of the target power density on the synthesis and physical properties of sputtered nc-C films
    Myung, Hyun S. ; Park, Yong S. ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 494 (2006-01-03), Heft 1-2, S. 123-127
    Online academicJournal
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    Growth mechanism and thermoelectric properties of PbTe/SnTe/PbTe heterostructures
    In: Thin Solid Films, Jg. 493 (2005-12-22), Heft 1-2, S. 41-48
    Online academicJournal
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    Generalized analytical model for the calculation of light transmittance through a thin conducting film
    Dmitruk, N.L. ; Korovin, A.V.
    In: Thin Solid Films, Jg. 484 (2005-07-22), Heft 1-2, S. 382-388
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    RHEED study of CdTe and HgCdTe thin films grown on Si by pulse laser deposition
    Sagan, P. ; Wisz, G. ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 480-481 (2005-06-01), S. 318-321
    Online academicJournal
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    Influence of Hf[right arrow]Zr substitution on optical and refractometric parameters of Hf.sub.1-x Zr.sub.x O.sub.2 thin films
    Studenyak, I.P. ; KranjAec, M. ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 476 (2005-04-01), Heft 1, S. 137-141
    Online academicJournal
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    Ellipsometric method for investigation of the optical anisotropy of thin films: theory and calculations
    Bortchagovsky, E.G.
    In: Thin Solid Films, Jg. 307 (1997-10-10), Heft 1-2, S. 192-199
    Online academicJournal
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