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In: IEEE CONFERENCE ON ELECTRON DEVICES AND SOLID STATE CIRCUITS, 2003, S. 251-254KonferenzZugriff:
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In: I.E.E.E. transactions on electron devices, Jg. 60 (2013), Heft 4, S. 1485-1489academicJournalZugriff:
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In: IEEE transactions on nanotechnology, Jg. 12 (2013), Heft 4, S. 524-531academicJournalZugriff:
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In: I.E.E.E. transactions on electron devices, Jg. 59 (2012), Heft 4, S. 941-948academicJournalZugriff:
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In: I.E.E.E. transactions on electron devices, Jg. 59 (2012), Heft 1, S. 247-251academicJournalZugriff:
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In: I.E.E.E. transactions on electron devices, Jg. 58 (2011), Heft 3, S. 600-608academicJournalZugriff:
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In: I.E.E.E. transactions on electron devices, Jg. 55 (2008), Heft 5, S. 1203-1210academicJournalZugriff:
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In: I.E.E.E. transactions on electron devices, Jg. 54 (2007), Heft 5, S. 1125-1131academicJournalZugriff:
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In: IEEE transactions on nanotechnology, Jg. 6 (2007), Heft 1, S. 101-105academicJournalZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 27 (2006), Heft 4, S. 284-287academicJournalZugriff:
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In: I.E.E.E. transactions on electron devices, Jg. 52 (2005), Heft 11, S. 2430-2439academicJournalZugriff:
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In: I.E.E.E. transactions on electron devices, Jg. 52 (2005), Heft 4, S. 561-568academicJournalZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 30 (2009), Heft 5, S. 541-543academicJournalZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 29 (2008), Heft 1, S. 125-127academicJournalZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 26 (2005), Heft 9, S. 661-663academicJournalZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 26 (2005), Heft 11, S. 836-838academicJournalZugriff: