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    Investigation of thermal noise in UTB GOI and SOI devices
    Pei, Yunpeng ; Huang, Ru ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 55 (2008-05-01), Heft 5, S. 1203-1210
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Carrier mobility/transport in undoped-UTB DG FinFETs
    Chowdhury, Murshed M. ; Trivedi, Vishal P. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 54 (2007-05-01), Heft 5, S. 1125-1131
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Modeling study of the impact of surface roughness on silicon and germanium UTB MOSFETs
    Low, Tony ; Li, Ming-Fu ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 52 (2005-11-01), Heft 11, S. 2430-2439
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    A novel nanoscaled device concept: Quasi-SOI MOSFET to eliminate the potential weaknesses of UTB SOI MOSFET
    Tian, Yu ; Zhang, Xing ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 52 (2005-04-01), Heft 4, S. 561-568
    academicJournal
    Wie komme ich dran?

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