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In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 4148 (2000), S. 27-33KonferenzZugriff:
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In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 4148 (2000), S. 247-251KonferenzZugriff:
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In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 4148 (2000), S. 153-157KonferenzZugriff:
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In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 4148 (2000), S. 170-176KonferenzZugriff:
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In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 4148 (2000), S. 185-193KonferenzZugriff:
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In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 4148 (2000), S. 216-222KonferenzZugriff:
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In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 4148 (2000), S. 230-235KonferenzZugriff:
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In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 4148 (2000), S. 209-215KonferenzZugriff:
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In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 4148 (2000), S. 202-208KonferenzZugriff:
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In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 4148 (2000), S. 177-184KonferenzZugriff:
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In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 4148 (2000), S. 194-201KonferenzZugriff:
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In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 4148 (2000), S. 90-97KonferenzZugriff:
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In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 4148 (2000), S. 137-146KonferenzZugriff: