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  1. Zhu, Mingda ; Chen, Si ; et al.
    In: 2010 10th IEEE International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology, 2010-11-01, S. 960-962
    Konferenz
  2. WINDBACHER, Thomas ; SVERDLOV, Viktor ; et al.
    In: Selected Full-Length Extended Papers from the EUROSOI 2009 Conference, Jg. 54 (2010), Heft 2, S. 137-142
    Online academicJournal
  3. Xie, Min ; Zhao, Yi ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 65 (2018-03-01), S. 895-900
    Online unknown
  4. Zheng, Zejie ; Yu, Xiao ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 65 (2018-03-01), Heft 3, S. 895-900
    academicJournal
  5. Ishii, H. ; Uchida, Noriyuki ; et al.
    In: 2018 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2018-06-01
    Online unknown
  6. Ishii, Hiroyuki ; Wen Hsin Chang ; et al.
    In: 2018 International Symposium on VLSI Technology, Systems and Application (VLSI-TSA), 2018-04-01
    Online unknown
  7. Cho, Won-Ju ; Kim, Kwan-Su
    In: Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers, Jg. 20 (2007-11-01), S. 939-942
    Online unknown
  8. Fossum, Jerry G. ; Trivedi, Vishal P. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 54 (2007-05-01), S. 1125-1131
    Online unknown
  9. Baumgartner, Oskar ; Selberherr, Siegfried ; et al.
    In: Solid-State Electronics, 2010
    Online unknown
  10. Ungersboeck, E. ; Sverdlov, V. ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, Jg. 893 (2007-04-10), Heft 1, S. 1389-1390
    Konferenz

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