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    Backside Si passivation: Leading to high performance UTB GeOI structures for monolithic 3D integrations
    Ishii, Hiroyuki ; Wen Hsin Chang ; et al.
    In: 2019 International Symposium on VLSI Technology, Systems and Application (VLSI-TSA), 2019-04-01
    Online unknown
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    Gate Overdrive with Split-Circuit Biasing to Substitute for Body Biasing in FinFET and UTB FDSOI Circuits
    Whetzel, Andrew ; Stan, Mircea R.
    In: 2016 IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI), 2016-07-01
    Online unknown
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    Statistical variability in scaled generations of n-channel UTB-FD-SOI MOSFETs under the influence of RDF, LER, OTF and MGG
    Asenov, Asen ; Markov, Stanislav ; et al.
    In: 2012 IEEE International SOI Conference (SOI), 2012-10-01
    Online unknown
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    Comprehensive analysis of UTB GeOI logic circuits and 6T SRAM cells considering variability and temperature sensitivity
    Fan, Ming-Long ; Vita Pi-Ho Hu ; et al.
    In: 2011 International Electron Devices Meeting, 2011-12-01
    Online unknown
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    Variability in Nanoscale UTB SOI Devices and its Impact on Circuits and Systems
    Asenov, Asen ; Samsudin, Khairulmizam
    2007
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?

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