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In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 5065 (2003), S. 235-240KonferenzZugriff:
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In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 5065 (2003), S. 208-218KonferenzZugriff:
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In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 5065 (2003), S. 255-260KonferenzZugriff:
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In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 5065 (2003), S. 226-234KonferenzZugriff:
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In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 5065 (2003), S. 135-138KonferenzZugriff:
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In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 5065 (2003), S. 196-207KonferenzZugriff:
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In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 5065 (2003), S. 174-180KonferenzZugriff:
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In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 5065 (2003), S. 122-126KonferenzZugriff:
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In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 5065 (2003), S. 181-187KonferenzZugriff:
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In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 5065 (2003), S. 108-116KonferenzZugriff:
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In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 5065 (2003), S. 139-145KonferenzZugriff: