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    Electron Mobility Behavior of Ge-Free Ultrathin-Body (UTB) Strained-SOI (sSOI) MOSFETs : Special issue on the 15th Korean conference on semiconductors: selected
    Kim, K. S. ; Cho, W. J.
    In: JOURNAL- KOREAN PHYSICAL SOCIETY, Jg. 54 (2009), Heft 5, S. 1840-1843
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
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    Combined sources of intrinsic parameter fluctuations in sub-25nm generation UTB-SOI MOSFETs: A statistical simulation study : Ultimate Integration of Silicon; Papers selected from the 2006 ULIS conference
    Samsudin, K. ; Adamu-Lema, F. ; et al.
    In: SOLID STATE ELECTRONICS, Jg. 51 (2007), Heft 4, S. 611-616
    Online Konferenz
    Zugriff:
    View record from ScienceDirect (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    Source/Drain Resistance of UTB SOI MOSFET : Electron devices and solid-state circuits; EDSSC '05
    Ke, W. ; Zhang, S. ; et al.
    In: IEEE CONFERENCE ON ELECTRON DEVICES AND SOLID-STATE CIRCUITS, 2005, S. 405-408
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Impact of Gate Overlap on Electron Transport in UTB nMOSFET : International conference on semiconductor technology
    Xia, Z. ; Du, G. ; et al.
    2004
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Non-Stationary Transports In Sub-100nm UTB MOSFET By Using QBE Based Monte Carlo Method : International conference on semiconductor technology
    Du, G.
    2004
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Variability in nanoscale UTB SOI devices and its impact on circuits and systems : NATO Advanced Research Workshop on Nanoscaled Semiconductor-on-Insulator Structures and Semiconductor-on-Insulator Structures and Devices
    Asenov, A. ; Samsudin, K.
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Low-field Mobility in Strained Silicon Inversion Layers and UTB MOSFETs for Different Substrate Orientations : International Conference on the Physics of Semiconductors; Physics of semiconductors
    Ungersboeck, E. ; Sverdlov, V. ; et al.
    In: AIP CONFERENCE PROCEEDINGS, 2007, Heft PT A-B, S. 1389-1390
    Konferenz
    Wie komme ich dran?

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