Zum Hauptinhalt springen
Landesbibliothekszentrum Rheinland-Pfalz
LBZ-Katalog PLUS

Suchergebnisse

LBZ-Katalog

Aufsätze und mehr
8 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Aufsätze und mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Aktive Suchfilter

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Art der Quelle

Thema

Publikation

Inhaltsanbieter

8 Treffer

Sortierung: 
  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Threshold voltage of UTB XOI FET
    Islam, Muhammad Mainul ; Sarker, Md. Shamim ; et al.
    In: 2017 4th International Conference on Advances in Electrical Engineering (ICAEE), 2017-09-01, S. 59-63
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Analysis of Negative Capacitance UTB SOI MOSFETs considering Line-Edge Roughness and Work Function Variation
    Chiu, Pin-Chieh ; Hu, Vita Pi-Ho
    In: 2018 IEEE 2nd Electron Devices Technology and Manufacturing Conference (EDTM), 2018-03-01, S. 13-15
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Investigation and Comparison of Work Function Variation for FinFET and UTB SOI Devices Using a Voronoi Approach
    Chou, S. H. ; Fan, M. L. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 60 (2013-04-01), Heft 4, S. 1485-1489
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Physical Model of the Junctionless UTB SOI-FET
    Gnani, E. ; Gnudi, A. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 59 (2012-04-01), Heft 4, S. 941-948
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Optimal UTB FD/SOI device structure using thin BOX for sub-50-nm SRAM design
    Mukhopadhyay, S. ; Kim, Keunwoo ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 27 (2006-04-01), Heft 4, S. 284-287
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Analytical modeling of threshold voltage for Nanoscale Symmetric Double Gate (SDG) MOSFET with Ultra Thin Body (UTB)
    Vishvakarma, S. K. ; Raj, B. ; et al.
    In: 2007 International Workshop on Physics of Semiconductor Devices, 2007-12-01, S. 277
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Single Metal Gate with Dual Work Functions for FD-SOI and UTB Double Gate Technologies
    Pham, D. ; Luan, H. ; et al.
    In: 2006 IEEE international SOI Conferencee Proceedings, International SOI Conference, 2006-10-01, S. 25
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Statistical variability in n-channel UTB-FD-SOI MOSFETs under the influence of RDF, LER, MGG and PBTI
    Markov, Stanislav ; Idris, Niza Mohd ; et al.
    In: IEEE 2011 International SOI Conference, 2011-10-01, S. 1-2
    Konferenz
    Wie komme ich dran?

Weitere Kataloge

xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -