Correlation of Radiation-Induced Interface Traps With Band Edge Energy Through Band Structure-Based Analysis of Electrostatics of UTB SOI Devices

Mishra, Nalin Vilochan ; Medury, Aditya Sankar ; et al.

In: IEEE Transactions on Device and Materials Reliability ; page 1-1 ; ISSN 1530-4388 1558-2574, 2024

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Titel:	Correlation of Radiation-Induced Interface Traps With Band Edge Energy Through Band Structure-Based Analysis of Electrostatics of UTB SOI Devices
Autor/in / Beteiligte Person:	Mishra, Nalin Vilochan ; Medury, Aditya Sankar ; Science and Engineering Research Board
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Zeitschrift:	IEEE Transactions on Device and Materials Reliability ; page 1-1 ; ISSN 1530-4388 1558-2574, 2024
Veröffentlichung:	Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2024
Medientyp:	academicJournal
DOI:	10.1109/tdmr.2024.3366592
Schlagwort:	Electrical and Electronic Engineering Safety, Risk, Reliability and Quality Electronic, Optical and Magnetic Materials
Sonstiges:	Nachgewiesen in: BASE Sprachen: unknown Document Type: article in journal/newspaper Language: unknown Rights: https://ieeexplore.ieee.org/Xplorehelp/downloads/license-information/IEEE.html ; https://doi.org/10.15223/policy-029 ; https://doi.org/10.15223/policy-037

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