Investigation of Thermal Noise in UTB GOI and SOI Devices
In: IEEE transactions on electron devices, Jg. 55 (2008), Heft 5, S. 1203-1210
serialPeriodical
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Titel: |
Investigation of Thermal Noise in UTB GOI and SOI Devices
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Autor/in / Beteiligte Person: | Pei, Yunpeng ; Huang, Ru ; An, Xia ; Zhuge, Jing ; Li, Xiaodong ; Xiao, Han ; Wang, Yangyuan |
Link: | |
Zeitschrift: | IEEE transactions on electron devices, Jg. 55 (2008), Heft 5, S. 1203-1210 |
Veröffentlichung: | 2008 |
Medientyp: | serialPeriodical |
ISSN: | 0018-9383 (print) |
Sonstiges: |
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