Zum Hauptinhalt springen

Anisotropically etched Si surface and the electrical properties of Si/HgCdTe heterostructures

GORBACH, T. Ya ; KUZMA, M ; et al.
In: Proceedings of Symposium J on Growth and Evolution of Ultra Thin Films: Surface and Interface Geometric & Electronic Structure, of the E-MRS 2002 Spring Conference, Strasbourg, France, June 18-21, 2002Thin solid films 428(1-2):165-169; Jg. 428 (2003) 1-2, S. 165-169
Online Konferenz - print, 22 ref

Titel:
Anisotropically etched Si surface and the electrical properties of Si/HgCdTe heterostructures
Autor/in / Beteiligte Person: GORBACH, T. Ya ; KUZMA, M ; SMERTENKO, P. S ; SVECHNIKOV, S. V ; WISZ, G
Link:
Quelle: Proceedings of Symposium J on Growth and Evolution of Ultra Thin Films: Surface and Interface Geometric & Electronic Structure, of the E-MRS 2002 Spring Conference, Strasbourg, France, June 18-21, 2002Thin solid films 428(1-2):165-169; Jg. 428 (2003) 1-2, S. 165-169
Veröffentlichung: Lausanne: Elsevier Science, 2003
Medientyp: Konferenz
Umfang: print, 22 ref
ISSN: 0040-6090 (print)
Schlagwort:
  • Crystallography
  • Cristallographie cristallogenèse
  • Electronics
  • Electronique
  • Metallurgy, welding
  • Métallurgie, soudage
  • Condensed state physics
  • Physique de l'état condensé
  • Sciences exactes et technologie
  • Exact sciences and technology
  • Physique
  • Physics
  • Etat condense: structure electronique, proprietes electriques, magnetiques et optiques
  • Condensed matter: electronic structure, electrical, magnetic, and optical properties
  • Structure électronique et propriétés électriques des surfaces, interfaces, couches minces et structures de basse dimensionnalité
  • Electronic structure and electrical properties of surfaces, interfaces, thin films and low-dimensional structures
  • Etats électroniques et excitations collectives dans les couches minces, multicouches, puits quantiques, nanostructures et systèmes mésoscopiques
  • Electron states and collective excitations in thin films, multilayers, quantum wells, mesoscopic and nanoscale systems
  • Couches minces et multicouches
  • Thin films and multilayers
  • Domaines interdisciplinaires: science des materiaux; rheologie
  • Cross-disciplinary physics: materials science; rheology
  • Science des matériaux
  • Materials science
  • Méthodes de dépôt de films et de revêtements; croissance de films et épitaxie
  • Methods of deposition of films and coatings; film growth and epitaxy
  • Dépôt par faisceau laser
  • Laser deposition
  • Traitements de surface
  • Surface treatments
  • Multilayers
  • Surface cleaning, etching, patterning
  • Composé minéral
  • Inorganic compounds
  • Métal transition composé
  • Transition element compounds
  • Non métal
  • Nonmetals
  • Tellurure
  • Tellurides
  • Attaque chimique
  • Chemical etching
  • Ataque químico
  • Cadmium tellurure
  • Cadmium tellurides
  • Caractéristique courant tension
  • IV characteristic
  • Conductivité électrique
  • Electrical conductivity
  • Couche mince
  • Thin films
  • Couche épitaxique
  • Epitaxial layers
  • Croissance cristalline en phase vapeur
  • Crystal growth from vapors
  • Dépôt laser pulsé
  • Pulsed laser deposition
  • Etude expérimentale
  • Experimental study
  • Hétérostructure
  • Heterostructures
  • Mercure tellurure
  • Mercury tellurides
  • Porteur minoritaire
  • Minority carriers
  • Prétraitement
  • Pretreatment
  • Pretratamiento
  • Relation structure propriété
  • Property structure relationship
  • Relación estructura propiedad
  • Semiconducteur II-VI
  • II-VI semiconductors
  • Semiconducteur
  • Semiconductor materials
  • Silicium
  • Silicon
  • Substrat
  • Substrates
  • Traitement surface
  • Cd Hg Te
  • HgCdTe
  • Substrat Si
  • HgCdTe/Si heterostructure
  • I-V characteristics
  • Patterned Si surface
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: PASCAL Archive
  • Sprachen: English
  • Original Material: INIST-CNRS
  • Document Type: Conference Paper
  • File Description: text
  • Language: English
  • Author Affiliations: Institute of Semiconductor Physics, National Academy of Sciences of Ukraine, Prospect Nauki 45, Kiev, 03028, Ukraine ; Institute of Physics, Rzeszów University, Rejtana 16a, 35-309 Rzeszów, Poland
  • Rights: Copyright 2003 INIST-CNRS ; CC BY 4.0 ; Sauf mention contraire ci-dessus, le contenu de cette notice bibliographique peut être utilisé dans le cadre d’une licence CC BY 4.0 Inist-CNRS / Unless otherwise stated above, the content of this bibliographic record may be used under a CC BY 4.0 licence by Inist-CNRS / A menos que se haya señalado antes, el contenido de este registro bibliográfico puede ser utilizado al amparo de una licencia CC BY 4.0 Inist-CNRS
  • Notes: Physics and materials science ; Physics of condensed state: electronic structure, electrical, magnetic and optical properties

Klicken Sie ein Format an und speichern Sie dann die Daten oder geben Sie eine Empfänger-Adresse ein und lassen Sie sich per Email zusenden.

oder
oder

Wählen Sie das für Sie passende Zitationsformat und kopieren Sie es dann in die Zwischenablage, lassen es sich per Mail zusenden oder speichern es als PDF-Datei.

oder
oder

Bitte prüfen Sie, ob die Zitation formal korrekt ist, bevor Sie sie in einer Arbeit verwenden. Benutzen Sie gegebenenfalls den "Exportieren"-Dialog, wenn Sie ein Literaturverwaltungsprogramm verwenden und die Zitat-Angaben selbst formatieren wollen.

xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -