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Formation of Ti and TiN ultra-thin films on Si by ion beam sputter deposition

STYERVOYEDOV, A ; FARENIK, V
In: Proceedings of the 23rd European Conference on Surface Science, ECOSS-23, Berlin, Germany, 4-9 September 2005Surface science 600(18):3766-3769; Jg. 600 (2006) 18, S. 3766-3769
Online Konferenz - print, 12 ref

Titel:
Formation of Ti and TiN ultra-thin films on Si by ion beam sputter deposition
Autor/in / Beteiligte Person: STYERVOYEDOV, A ; FARENIK, V
Link:
Quelle: Proceedings of the 23rd European Conference on Surface Science, ECOSS-23, Berlin, Germany, 4-9 September 2005Surface science 600(18):3766-3769; Jg. 600 (2006) 18, S. 3766-3769
Veröffentlichung: Amsterdam; Lausanne; New York, NY: Elsevier Science, 2006
Medientyp: Konferenz
Umfang: print, 12 ref
ISSN: 0039-6028 (print)
Schlagwort:
  • General chemistry, physical chemistry
  • Chimie générale, chimie physique
  • Nanotechnologies, nanostructures, nanoobjects
  • Nanotechnologies, nanostructures, nanoobjets
  • Condensed state physics
  • Physique de l'état condensé
  • Polymers, paint and wood industries
  • Polymères, industries des peintures et bois
  • Sciences exactes et technologie
  • Exact sciences and technology
  • Physique
  • Physics
  • Etat condense: structure, proprietes mecaniques et thermiques
  • Condensed matter: structure, mechanical and thermal properties
  • Etat condense: structure electronique, proprietes electriques, magnetiques et optiques
  • Condensed matter: electronic structure, electrical, magnetic, and optical properties
  • Domaines interdisciplinaires: science des materiaux; rheologie
  • Cross-disciplinary physics: materials science; rheology
  • Composé minéral
  • Inorganic compounds
  • Couche ultramince
  • Ultrathin films
  • Dépôt pulvérisation
  • Sputter deposition
  • Faisceau ion
  • Ion beams
  • Métal transition composé
  • Transition element compounds
  • Métal transition
  • Transition elements
  • Silicium
  • Silicon
  • Spectre photoélectron RX
  • X-ray photoelectron spectra
  • Titane nitrure
  • Titanium nitrides
  • Si
  • Ti
  • Titanium nitride
  • Titanium
  • X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: PASCAL Archive
  • Sprachen: English
  • Original Material: INIST-CNRS
  • Document Type: Conference Paper
  • File Description: text
  • Language: English
  • Author Affiliations: Scientific Centre of Physical Technologies of MES and NAS of Ukraine, Svobody sq. 6, 61022 Kharkiv, Ukraine ; V.N. Karazin Kharkiv National University, Svobody sq. 4, 61077 Kharkiv, Ukraine
  • Rights: Copyright 2007 INIST-CNRS ; CC BY 4.0 ; Sauf mention contraire ci-dessus, le contenu de cette notice bibliographique peut être utilisé dans le cadre d’une licence CC BY 4.0 Inist-CNRS / Unless otherwise stated above, the content of this bibliographic record may be used under a CC BY 4.0 licence by Inist-CNRS / A menos que se haya señalado antes, el contenido de este registro bibliográfico puede ser utilizado al amparo de una licencia CC BY 4.0 Inist-CNRS
  • Notes: Physics and materials science ; Physics of condensed state: electronic structure, electrical, magnetic and optical properties ; Physics of condensed state: structure, mechanical and thermal properties

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