Zum Hauptinhalt springen

Two-peak temperature dependence of microwave surface impedance of single-crystalline YBCO thin films : Role of pairing symmetry and defect structure

PAN, V. M ; KASATKIN, A. L ; et al.
In: Proceedings of the 8th symposium on high temperature superconductors in high frequency FieldsJournal of superconductivity and novel magnetism 19(7-8):561-569; Jg. 19 (2006) 7-8, S. 561-569
Online Konferenz - print, 42 ref

Titel:
Two-peak temperature dependence of microwave surface impedance of single-crystalline YBCO thin films : Role of pairing symmetry and defect structure
Autor/in / Beteiligte Person: PAN, V. M ; KASATKIN, A. L ; KOMASHKO, V. A ; TRETIATCHENKO, C. G ; IVANYUTA, O. M ; MELKOV, G. A
Link:
Quelle: Proceedings of the 8th symposium on high temperature superconductors in high frequency FieldsJournal of superconductivity and novel magnetism 19(7-8):561-569; Jg. 19 (2006) 7-8, S. 561-569
Veröffentlichung: New York, NY: Springer, 2006
Medientyp: Konferenz
Umfang: print, 42 ref
ISSN: 1557-1939 (print)
Schlagwort:
  • Electronics
  • Electronique
  • Condensed state physics
  • Physique de l'état condensé
  • Sciences exactes et technologie
  • Exact sciences and technology
  • Physique
  • Physics
  • Etat condense: structure electronique, proprietes electriques, magnetiques et optiques
  • Condensed matter: electronic structure, electrical, magnetic, and optical properties
  • Supraconductivité
  • Superconductivity
  • Propriétés des supraconducteurs de type i et de type ii
  • Properties of type I and type II superconductors
  • Réponse aux champs électromagnétiques (résonance magnétique nucléaire, impédance superficielle, etc.)
  • Response to electromagnetic fields (nuclear magnetic resonance, surface impedance, etc.)
  • Baryum oxyde
  • Barium oxides
  • Conductivité hyperfréquence
  • Microwave conductivity
  • Conductividad hiperfrecuencia
  • Couche mince
  • Thin films
  • Cuivre oxyde
  • Copper oxides
  • Diffusion élastique
  • Elastic scattering
  • Défaut étendu
  • Extended defects
  • Effet température
  • Temperature effects
  • Equation Boltzmann
  • Boltzmann equation
  • Equation cinétique
  • Kinetic equations
  • Impédance surface
  • Surface impedance
  • Interaction électron défaut
  • Electron-defect interactions
  • Monocristal
  • Monocrystals
  • Profondeur pénétration
  • Penetration depth
  • Pulvérisation cathodique
  • Cathode sputtering
  • Structure défaut
  • Defect structure
  • Supraconducteur haute température
  • High-Tc superconductors
  • Symétrie appariement
  • Pairing symmetry
  • Yttrium oxyde
  • Yttrium oxides
  • 7425N
  • YBa2Cu3O7-δ thin films:linear defects
  • high-temperature superconductors
  • microwave surface impedance
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: PASCAL Archive
  • Sprachen: English
  • Original Material: INIST-CNRS
  • Document Type: Conference Paper
  • File Description: text
  • Language: English
  • Author Affiliations: Department of Superconductivity, Institute for Metal Physics, Vernadsky Blvd. 36, 03142 Kiev, Ukraine ; Department of Cryo-and Microelectronics, T. Shevchenko National University, Glushkova Ave. 6, 03127 Kiev, Ukraine
  • Rights: Copyright 2007 INIST-CNRS ; CC BY 4.0 ; Sauf mention contraire ci-dessus, le contenu de cette notice bibliographique peut être utilisé dans le cadre d’une licence CC BY 4.0 Inist-CNRS / Unless otherwise stated above, the content of this bibliographic record may be used under a CC BY 4.0 licence by Inist-CNRS / A menos que se haya señalado antes, el contenido de este registro bibliográfico puede ser utilizado al amparo de una licencia CC BY 4.0 Inist-CNRS
  • Notes: Physics of condensed state: electronic structure, electrical, magnetic and optical properties

Klicken Sie ein Format an und speichern Sie dann die Daten oder geben Sie eine Empfänger-Adresse ein und lassen Sie sich per Email zusenden.

oder
oder

Wählen Sie das für Sie passende Zitationsformat und kopieren Sie es dann in die Zwischenablage, lassen es sich per Mail zusenden oder speichern es als PDF-Datei.

oder
oder

Bitte prüfen Sie, ob die Zitation formal korrekt ist, bevor Sie sie in einer Arbeit verwenden. Benutzen Sie gegebenenfalls den "Exportieren"-Dialog, wenn Sie ein Literaturverwaltungsprogramm verwenden und die Zitat-Angaben selbst formatieren wollen.

xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -