Characterisation of ultrasonically sprayed InxSy buffer layers for Cu(In, Ga)Se2 solar cells

EMITS, K ; BREMAUD, D ; et al.

In: Proceedings of Symposium O on thin film chalcogenide photovoltaic materials, EMRS 2006 conference, Nice, France, May 29-June 2, 2006Thin solid films 515(15):6051-6054; Jg. 515 (2007) 15, S. 6051-6054

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In order to replace chemical bath deposited (CBD) CdS buffer layers in Cu(In,Ga)Se2 (CIGS) solar cells by an alternative material, InxSy thin-film buffer layers were prepared by ultrasonic spray pyrolysis at various substrate temperatures. X-ray Diffraction measurements confirmed that the films contained primarily the tetragonal In2S3 phase. X-ray Photoelectron Spectroscopy measurements revealed a small concentration of chlorine impurity throughout the InxSy layer. By depositing the indium sulphide layer as buffer layer in the CIGS solar cell configuration, a maximum solar cell efficiency of 8.9% was achieved, whilst the reference cell with CdS/CIGS on a similar absorber exhibited 12.7% efficiency. Additionally, light soaking enhanced the efficiency of InxSy/CIGS cells primarily by improvements in fill factor and open circuit voltage.

Titel:	Characterisation of ultrasonically sprayed InxSy buffer layers for Cu(In, Ga)Se2 solar cells
Autor/in / Beteiligte Person:	EMITS, K ; BREMAUD, D ; BUECHELER, S ; HIBBERD, C. J ; KAELIN, M ; KHRYPUNOV, G ; MÜLLER, U ; MELLIKOV, E ; TIWARI, A. N
Link:	View record from ScienceDirect (Volltext) View record from PASCAL Archive
Quelle:	Proceedings of Symposium O on thin film chalcogenide photovoltaic materials, EMRS 2006 conference, Nice, France, May 29-June 2, 2006Thin solid films 515(15):6051-6054; Jg. 515 (2007) 15, S. 6051-6054
Veröffentlichung:	Lausanne: Elsevier Science, 2007
Medientyp:	Konferenz
Umfang:	print, 14 ref
ISSN:	0040-6090 (print)
Schlagwort:	Crystallography Cristallographie cristallogenèse Electronics Electronique Metallurgy, welding Métallurgie, soudage Condensed state physics Physique de l'état condensé Sciences exactes et technologie Exact sciences and technology Physique Physics Etat condense: structure, proprietes mecaniques et thermiques Condensed matter: structure, mechanical and thermal properties Surfaces et interfaces; couches minces et trichites (structure et propriétés non électroniques) Surfaces and interfaces; thin films and whiskers (structure and nonelectronic properties) Structure et morphologie de couches minces Thin film structure and morphology Structure et morphologie; épaisseur Structure and morphology; thickness Domaines interdisciplinaires: science des materiaux; rheologie Cross-disciplinary physics: materials science; rheology Science des matériaux Materials science Méthodes de dépôt de films et de revêtements; croissance de films et épitaxie Methods of deposition of films and coatings; film growth and epitaxy Techniques de revêtement par pulvérisation Spray coating techniques Sciences appliquees Applied sciences Energie Energy Energie naturelle Natural energy Energie solaire Solar energy Conversion photovoltaïque Photovoltaic conversion Cellules solaires. Cellules photoélectrochimiques Solar cells. Photoelectrochemical cells Cadmium sulfure Cadmium sulfides Cellule solaire Solar cells Chlore Chlorine Couche mince Thin films Couche tampon Buffer layer Capa tampón Cuivre séléniure Copper selenides Diffraction RX XRD Dépendance température Temperature dependence Dépôt projection Spray coatings Gallium séléniure Gallium selenides Indium sulfure Indium sulfides Indium séléniure Indium selenides Réseau quadratique Tetragonal lattices Spectre photoélectron RX X-ray photoelectron spectra 6855J 8115R 8460J CdS In2S3 In CIGS Indium sulphide Thin film Ultrasonic spray pyrolysis
Sonstiges:	Nachgewiesen in: PASCAL Archive Sprachen: English Original Material: INIST-CNRS Document Type: Conference Paper File Description: text Language: English Author Affiliations: Chair of Semiconductor Materials Technology, Department of Material Science, Tallinn University of Technology, Tallinn 19086, Estonia ; Thin-Film Physics Group, Laboratory for Solid State Physics, ETH Zurich, Technopark, 8005 Zurich, Switzerland ; CREST, Department of Electronic and Electrical Engineering, Loughborough University, Leicestershire LET11 3TU, United Kingdom ; National Technical University, 61002 Kharkov, Ukraine ; Laboratory for Nanoscale Materials Science, EMPA, 8600 Dübendorf, Switzerland Rights: Copyright 2007 INIST-CNRS ; CC BY 4.0 ; Sauf mention contraire ci-dessus, le contenu de cette notice bibliographique peut être utilisé dans le cadre d’une licence CC BY 4.0 Inist-CNRS / Unless otherwise stated above, the content of this bibliographic record may be used under a CC BY 4.0 licence by Inist-CNRS / A menos que se haya señalado antes, el contenido de este registro bibliográfico puede ser utilizado al amparo de una licencia CC BY 4.0 Inist-CNRS Notes: Energy ; Physics and materials science ; Physics of condensed state: structure, mechanical and thermal properties

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