Source/Drain Resistance of UTB SOI MOSFET

Ke, Wei ; Zhang, Shengdong ; et al.

In: IEEE Conference on Electron Devices and Solid-State Circuits; (2005) S. 405-408

Konferenz

Titel:	Source/Drain Resistance of UTB SOI MOSFET
Autor/in / Beteiligte Person:	Ke, Wei ; Zhang, Shengdong ; Liu, Xiaoyan ; Han, Ruqi
Quelle:	IEEE Conference on Electron Devices and Solid-State Circuits; (2005) S. 405-408
Veröffentlichung:	2005
Medientyp:	Konferenz
ISBN:	0-7803-9339-2 (print) ; 978-0-7803-9339-4 (print)
DOI:	10.1109/EDSSC.2005.1635292
Sonstiges:	Nachgewiesen in: IEEE Xplore Digital Library

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